自动进样箔片测厚仪

自动进样箔片测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。  自动进样箔片测厚仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告   自动进样箔片测厚仪执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817  自动进样箔片测厚仪技术特征：测试范围：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选） 分辨率：0.1μm 测量速度：10 次/min （可调） 测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） 接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）      注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 进样步距：0～1000 mm 进样速度：0.1～99.9 mm/s 电源：AC 220V 50Hz 外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 净重：32kg  了解详情请致电：济南兰光0531-85068566或登录www.labthink.com查询。