韩国微先锋XRF-2000 X-RAY膜厚仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000 X-RAY膜厚仪

韩国先锋X-RAY膜厚仪主要应用于检测电子电镀,电路板,半导体及五金电镀等行业
XRF-2000系列测厚仪三种型号,功能均一致
所体现差别为针对所检测样品大小选择适合型号
XRF-2000L型可测样品大小:550W*550*30H(样品高度上限30mm)
XRF-2000PCB型(此款开口式设计主要针对线路板)
XRF-2000H型:550W*550D*100H(样品高度100mm)

*XRF-2000H型特别订做可加高至200mm

韩国XRF-2000 X-RAY膜厚检测仪
主要检测电子电镀层厚度
可测单层,双层,多层及合金镀层厚度
如检测铜上镀镍,铜上镀镍再镀金,铜上镀银,铁上镀铜再镀银等


韩国XRF2000镀层测厚仪
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10cm或20cm可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
合金镀层:如铁上镀锡铜等
测量时间：10－30秒
精度控制：
      第一层：±5%以内
      第二层：±8%以内
      第三层：±12%以内

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。


韩国先锋X-RAY膜厚仪可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能