无损膜厚测试仪

（BA100)无损膜厚测试仪 搭载有75W高功率X射线管与双检测器（半导体检测器 比例计数管），能满足“薄膜镀层"、“合金镀层"、“超微小面积测量"等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。 此外，（BA100)无损膜厚测试仪还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能

BA100)无损膜厚测试仪


（BA100)无损膜厚测试仪的显着特征:
    ☆ 单、双及三层镀层系统
    ☆ 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
    ☆ 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）
    ☆ 能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量
    ☆ 可编程的应用项图标，用于快速应用项选择
    ☆ 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估
    ☆ 报告生成，数据输出
    ☆ 语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文
    ☆菜单中的某些选择项可授权使用
    注：基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。无需校准标准块，可在交货前预先创建应用。*无需标准块的测量应用。
    ☆ 可选择的Super WinFTM软件提供了以下的附加功能：
    ☆ 可随意创建测量应用
    ☆ 可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度
    ☆ 快速的频谱分析以决定合金成分

（BA100)无损膜厚测试仪产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.001um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：20层
测量用时：5-120秒
光管靶材：Mo靶；
测试环境：非真空条件
准直器：Ø0.1mm，Ø0.2mm，Ø0.3mm，Ø1.5mm
   
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