美国博曼镀层膜厚仪是多用途的X射线荧光测量法的技术,适合快速及非破坏性测量物料成份和镀层厚度的质量。它能够应用于广泛的产品种类。镀层厚度和镀层成份的关系通常是非常复杂的,只要使用WIN FTM软件,所有物理上可以测量的镀层组合都能够解决。它能提供非常大的弹性。它可以在一个多镀层系统内测量多至24种元素,这是非常独特的。简单的说:更多镀层!更多元素!更大灵敏度!
镀层膜厚仪可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 戴尔计算机
分析应用软件 操作系统:Windows7中文平台
-测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。
-基本分析功能 采用基本参数法校正。根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围:13-92号元素
博曼镀层膜厚仪BA-100样品台选择:
采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:
一:手动样品台
1 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二:自动样品台
1 程控样品台:XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
地址:深圳沙井北环大道110号新综合大楼502
公司网址: http://www.kinglinhk.net
联系人:夏瑾 手机:13602569417
QQ:2762951792
邮箱:Cici@Kinglinhk.net
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