射线镀层测厚仪

韩国先锋Micro Pioneer X-RAY电镀膜厚仪

XRF-2000电镀膜厚测量仪

产品介绍

X射线电镀测厚仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

XRF-2000镀层测厚仪系列三款型号：  
分别XRF-2000H镀层测厚仪,XRF-2000L测厚仪,XRF-2000PCB板测厚仪
三款型号镀层测厚仪功能相同,所体现区别是对检测样品高度有以下要求

1. H型: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度100mm以下。  
2. L型:  密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度30mm以下。  
3. PCB型:  开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度30mm以下

应用 : 
检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度

测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。   
 

特色 :
  

非破坏，非接触式检测分析，快速精确。 
  可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。 
  相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。 
  全系列独特设计样品与光径自动对準系统。 
  标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。 
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。  
  移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。  
  独特2D与3D或任意位置表面量测分析。 
  雷射对焦，配合CCD摄取影像使用point and shot功能。 

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。 

光学2 0X 影像放大功能，更能精确对位。  

单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。 
  

优於美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的最佳优势。  
  仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。 
  测试方法 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 

韩国XRF2000镀层测厚仪

检测电子电镀,五金镀,LED支架电镀.PCB板电镀,化学镀,,如镀金,镀镍,镀锌,镀锡,镀钯,镀铜,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单

仪器功能

 
全自动台面
 

自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.04－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒
 
精度控制：
      第一层：±5%以内
      第二层：±8%以内
      第三层：±12%以内

XRF2000电镀测厚仪/电镀膜厚测试仪

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。