X荧光快速测厚仪

【产品名称】X荧光快速测厚仪

X荧光快速测厚仪是一款无损测厚仪器，主要针对金属镀层：镀金，镀银，镀铜，镀锡，镀铬，镀铑，镀钯，镀锌……，thick800a-X荧光快速测厚仪是公司目前销量最好，性价比最高的一款仪器。

【X荧光快速测厚仪标准配置】

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

【X荧光快速测厚仪性能特点】

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

【X荧光快速测厚仪技术指标】

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

【X荧光快速测厚仪部分产品】

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【X荧光快速测厚仪应用领域】

X荧光快速测厚仪广泛用于金属镀层（镀金、镀银、镀镍、镀铬等）的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、高压开关、制冷设备、胶粘制品、电子电器、气配五金、卫浴、贵金属等行业。