薄膜测厚仪-兰光机电技术有限公司

薄膜测厚仪是Labthink兰光自主研发生产的一款用于薄膜、纸张等片材厚度检测的试验仪器。薄膜测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3-2002(纸和纸板厚度的测定)、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。Labthink兰光拥有先进的检测技术与专业实验室，专业致力于为全球范围医药、食品、日化、包装、印刷、胶粘剂、汽车、石化、环境、生物、新能源、建筑、航空及电子领域客户提供最优秀、最全面的品质控制解决方案。

薄膜测厚仪技术指标
测量范围：0～2mm(常规)(0～6mm可选)
分 辨 率:0.1μm         
测量速度：10次/min(可调)
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；〔50±1kPa(纸张)〕
接触面积：50mm2(薄膜)；〔200mm2（纸张）〕

以上薄膜测厚仪信息由济南兰光发布，欢迎致电0531-85068566了解详细信息！