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韩国微先锋X-RAY膜厚仪X射线镀层测厚仪的测量原理
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。
从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。
荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析
应用实例图示
| （1）单镀层：Ag/xx |
| （2）合金镀层：Sn-Pb/xx |
| （3）双镀层：Au/Ni/xx |
| Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
| 底材 |
| 底材 |
| Ni |
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| 底材 |
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| （4）合金镀层：Sn-Bi/xx |
| （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化学镀层：Ni-P/xx |
| Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
| 底材 |
| Pd |
| 底材 |
|
|
| Ni |
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| 底材 |
韩国XRF-2000镀层测厚仪
仪器功能
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.04－35um
精度控制：
第一层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内
XRF2000电镀测厚仪/电镀膜厚测试仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦，操作非常方便简单
XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。